Ausstattung

  • Rasterelektronenmikroskop (REM) Sigma VP, Carl Zeiss Microscopy GmbH
  • Detektoren:

    • SE
    • SE-VP
    • In-Lens
    • BSD
    • EDX
    • WDX

  • ATLAS System zur hochaufgelösten Rasterelektronenmikroskopie, Carl Zeiss Microscopy GmbH
  • Zug-, Druck-, Biege-Einrichtung zur Untersuchung von Proben in belasteten Zuständen
  • Temperiereinrichtung zur Analyse von Proben von minus 20 bis plus 100 °C
  • Auswertesoftware REM, Carl Zeiss Microscopy GmbH
  • Auswertesoftware EDX, WDX, BrukerNano Analytics GmbH